成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
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產(chǎn)品名稱: 成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
產(chǎn)品型號: HD-2700
產(chǎn)品展商: 日本日立HITACHI
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合**納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標(biāo)準(zhǔn)型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。
近，該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場發(fā)射電子槍，進一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時，該型號系列還增加了一款不帶球差校正的主機配置，可以以后加配球差校正進行升級。
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
成都西野供應(yīng)日本日立HITACHI球差校正掃描透射電子顯微鏡HD-2700
的詳細(xì)介紹
高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像
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HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)
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HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
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明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)
高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍
操作簡化
從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接
配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作
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同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。
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低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至 低)
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高精度放大校準(zhǔn)和測量*
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實時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
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采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))*，具有自動傾斜圖像獲取功能。
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ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)
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選購件
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項目
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描述
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圖像分辨率
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w/o球差校正儀
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保證 0.204 nm(當(dāng)放大倍數(shù)為4,000,000時)
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w球差校正儀
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保證 0.144 nm(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時)(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
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保證 0.136 nm(HAADF圖像)
保證 0.105 nm(通過FFT)(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時)(高分辨率鏡頭*)
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放大倍數(shù)
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100倍 至 10,000,000倍
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加速電壓
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200 kV, 120 kV *
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成像信號
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明場掃描透射電子顯微鏡：相襯圖像(TE圖像)
暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數(shù)襯度圖像(Z襯度圖像)
二次電子圖像(SE圖像)
電子衍射*
特征X射線分析和面分布(能譜分析)*
電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)*
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電子光學(xué)系統(tǒng)
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電子源
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肖特基發(fā)射電子源
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冷場致發(fā)射器*
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照明透鏡系統(tǒng)
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2-段聚光鏡鏡頭
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球差校正儀*
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六極鏡頭設(shè)計
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掃描線圈
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2-段式電磁感應(yīng)線圈
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原子序數(shù)襯度收集角控制
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投影鏡設(shè)計
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電磁圖像位移
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±1 μm
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試片鏡臺
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樣品移動
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X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm
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樣品傾斜
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單軸-傾斜樣品桿：±30°(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭), ±18°(高分辨率鏡頭*)
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真空系統(tǒng)
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3個離子泵，1個TMP
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極限真空
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10-8 Pa(電子槍), 10-5 Pa(樣品室)
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圖像顯示
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個人電腦／操作系統(tǒng)
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PC/AT兼容, Windows® XP
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監(jiān)視器
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19-inch液晶顯示器面板
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圖像幀尺寸
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640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素
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掃描速度
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快掃，慢掃(0.5至320秒/幀)
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自動數(shù)據(jù)顯示
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記錄序號，加速電壓，下標(biāo)尺，日期，時間
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選購件
