Max.100點(diǎn)/秒的高速測(cè)試，針痕深度減半
● 電容法測(cè)量,高速光板測(cè)試機(jī)
● Max.100點(diǎn)/秒的高速測(cè)試
● 鍍金基板及微細(xì)線路基板的測(cè)試時(shí)間提升30%
● 搭配新型探針CP1702-01以及*優(yōu)軟著陸控制，實(shí)現(xiàn)微細(xì)線路的高速測(cè)試
● 通過(guò)5aF的高分辨率的電容法測(cè)量，可檢出單獨(dú)線路欠缺的微細(xì)**
● 從一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微細(xì)、高精密基板都可檢測(cè)
● *小焊盤尺寸15um
● 除電容法測(cè)量外，標(biāo)準(zhǔn)配備電阻、電感、二極管以及電壓測(cè)量。另外通過(guò)MLCC測(cè)量功能，在JIS規(guī)格要求下也可實(shí)現(xiàn)電容測(cè)量。
● 通過(guò)豐富的測(cè)量功能及選件單元的結(jié)合，減少待測(cè)基板在現(xiàn)場(chǎng)的停放時(shí)間
電容法測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)
電容測(cè)量法是飛針測(cè)試機(jī)縮短測(cè)量時(shí)間的不可或缺的方法。中間也可吸附的*大的優(yōu)點(diǎn)就是「不考慮形狀、層數(shù)即可測(cè)試」不通過(guò)測(cè)試驗(yàn)證為良品的話，辛苦制成的產(chǎn)品是無(wú)法出貨的。 「可以測(cè)試」，這個(gè)對(duì)測(cè)試機(jī)來(lái)說(shuō)是*重要的課題。 測(cè)試時(shí)間由測(cè)試點(diǎn)數(shù)與針痕考量綜合后設(shè)定的速度決定。 單面、軟板、封裝，CSP等無(wú)需在意形狀、厚度即可開始測(cè)試。
單面吸附式電容測(cè)量法的優(yōu)點(diǎn)（非導(dǎo)通測(cè)試）
可實(shí)現(xiàn)「１：其他網(wǎng)絡(luò)」間的非導(dǎo)通測(cè)試是單面測(cè)試機(jī)的特點(diǎn)。
雙面測(cè)試的飛針測(cè)試機(jī)上也可能會(huì)出現(xiàn)因基準(zhǔn)的GND層設(shè)定而只能使用電容法無(wú)法測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)。因此電阻測(cè)量的測(cè)試網(wǎng)絡(luò)會(huì)增加，導(dǎo)致雙面板的測(cè)試時(shí)間對(duì)比微細(xì)的多層板還要長(zhǎng)的現(xiàn)象頻繁地發(fā)生。
單面電容測(cè)量的話，因?yàn)槭俏皆谕换鶞?zhǔn)電極上，即使是線路板間的短路，測(cè)試時(shí)間稍微延長(zhǎng)一點(diǎn)的話就可以檢測(cè)出短路**。
穩(wěn)定的針痕控制及高速測(cè)試
只要進(jìn)行電氣測(cè)試，在線路板上就無(wú)可避免地會(huì)產(chǎn)生針痕。
雖是既定事實(shí)，但如果測(cè)試對(duì)象統(tǒng)一的話，測(cè)試機(jī)也可簡(jiǎn)單地限定某些條件。 相對(duì)而言，在難以把握接觸面狀態(tài)的雙面測(cè)試中，探針的接觸構(gòu)造也變得復(fù)雜。 也就是說(shuō)，使用吸附式測(cè)試機(jī)時(shí)，因?yàn)榫€路板的測(cè)試面是固定的，可迅速設(shè)定?盡量減少測(cè)試時(shí)間?的各種條件（速度、下壓量等）。機(jī)械構(gòu)造良好，操作簡(jiǎn)單；即使不使用接觸檢查功能和測(cè)試面高度補(bǔ)償，*終也可實(shí)現(xiàn)測(cè)試時(shí)間的縮短。
● 減輕針痕的新型探針CP1072-01 (選件)
通過(guò)新設(shè)計(jì)的減輕針痕的探針與精密的軟著陸控制的結(jié)合，在微細(xì)線路測(cè)試時(shí)的速度設(shè)定可以更接近*高速進(jìn)行設(shè)定。（FA1116專用探針）
鐳射基板厚度補(bǔ)償 FA1950-06 (選件)，在自動(dòng)測(cè)試開始時(shí)測(cè)量測(cè)試面的高度。以此減輕因基板翹曲以及厚度不均對(duì)針痕造成的影響。同時(shí)，還可防止因基板固定失誤造成的探針損壞。
探針配套
配合測(cè)試基板，可從各種組合中進(jìn)行配套選擇。
如對(duì)探針及針痕存在疑問(wèn)事項(xiàng)，可聯(lián)系敝司營(yíng)業(yè)擔(dān)當(dāng)。
用電容測(cè)量法，能保證絕緣電阻值嗎？
因?yàn)楹茈y換算成正確的數(shù)值，答案是「不能！」。
飛針測(cè)試機(jī)電容測(cè)量法的絕緣測(cè)試相對(duì)于絕緣電阻測(cè)試，*大的優(yōu)點(diǎn)是實(shí)現(xiàn)了測(cè)試時(shí)間的大幅縮短。
因?yàn)橥ㄟ^(guò)測(cè)試電容值，已經(jīng)保證了基板的導(dǎo)通·非導(dǎo)通，因此不給客戶造成誤解也是非常重要的。
當(dāng)然，因?yàn)闊o(wú)法保證電阻值，所以必須使用可靠的有測(cè)試電容（F）數(shù)值保證（可追溯）的測(cè)試機(jī)。
Gerber編輯軟件 FEB-LINE UA1781
程序制作軟件 UA1781是HIOKI獨(dú)有的Gerber編輯軟件
是把測(cè)試程序制作時(shí)必要的測(cè)試技術(shù)，與現(xiàn)有編輯軟件中費(fèi)事的通孔數(shù)據(jù)、涂布數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò)連接處理等獨(dú)有功能搭配的一款FLY-LINE的升級(jí)軟件。
FEB-LINE 測(cè)試數(shù)據(jù)制作軟件 UA1781
從電容測(cè)量的結(jié)果中，進(jìn)行**網(wǎng)絡(luò)顯示以及**部位搜索的確認(rèn)軟件。
FAIL VIEWER UA1782
■ 概略規(guī)格
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手臂數(shù)量
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2
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測(cè)試步數(shù)
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*多40,000步/piece
300,000步/sheet
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測(cè)試范圍
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DC測(cè)量功能
電阻:400 μΩ?40 MΩ
電容:4 μF?400 mF
二極管、三極管 (VF):0?25 V
齊納二極管 (VZ):0～25 V
短路:400 mΩ～40 kΩ
開路:4 Ω～4 MΩ
電壓:0?25 V
AC測(cè)量功能
電阻:100 Ω?100 MΩ
電容:10 fF?10 μF
電感:10 μH?100 mH
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測(cè)試時(shí)間
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Max.100 points/s
(0.1 mm移動(dòng), 2アーム同時(shí)プロービング, 容量測(cè)定時(shí))
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探針可測(cè)區(qū)域
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610W × 510D mm
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可測(cè)基板尺寸
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厚度: 0.1?3.2 mm
外形:50W × 50D?610W × 510 mm
元件搭載范圍:上測(cè)10 mm (含板厚), 下側(cè):0.1 mm
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基板傳送
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無(wú)自動(dòng)傳送規(guī)格
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電源
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AC200 V ±10% (單相) 50/60 Hz, 3 kVA
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尺寸?重量
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1443W × 1656H × 1185D mm, 1000 kg
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